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西安電子科技大學微電子專業(yè)教授、博導 ，西安芯派電子科技有限公司可靠性首席科學家。
研究領域：半導體器件可靠性、制造過程統(tǒng)計資料控制。
1966年大學畢業(yè)后留校在微電子專業(yè)從事教學、科研工作，至2009年退休。
曾獲得省部級科技進步二等獎三項、三等獎三項；
獲批專利6項；
參與制訂標準10項；
出版專著、教材12本。